磁片外观缺陷检测

铁氧体磁片是通过陶瓷工艺法制造而成,质地也比较坚硬,也属脆性材料。在高频时具有较高的磁导率。在生产过程中容易造成磁片,崩残,裂纹等不同的外观缺陷检测。

一:检测内容及要求检测工件面积
 直径5.35mm*高3.9mm的样件的外观、尺寸检测检测内容:
    1:底部正光检测外观(崩残,裂纹,发白)
    2:顶部正光检测外观(崩残,裂纹,发白)
注明:以上检测项目,均需要在影像下清晰可见才能检测检测效率:每分钟检测数量200-300件(根据样件送料速度)。分工段进行:按照检测内容细分检测步骤.

二: 设备组成及主要机构整体构成
1:磁片外观缺陷检测软件
2:工业电脑
3:显示器:21寸
4:工业相机: 500万黑白 *2
5:工业镜头: 2套FA工业镜头

三、系统安装要求
       设备放置的检测空间: 在流水线边单独磁片外观缺陷检测系统,需要保证有足够的空间以安装设备。环境温度: 0-50摄氏度;空气湿度: 90% RH以下;电子干扰: 为设备提供电子干扰较小的地方。电源: 交流220V,50Hz, 耗电<1KVA